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長岡技科大など、温度による微細な構造変化を解析する一分子計測技術を開発

非対称薄型ナノポアによるシトクロムcの検出。(a)印加電圧75、100、125、150mVにおけるシトクロムcの検出波形。(b)実験結果の散布図(横軸:遮断電流時間、縦軸:電流遮断率)。(c)電流遮断率のヒストグラム(出所:共同プレスリリースPDF)

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