理研など、シリコン量子ビット同士の間に「強い誤り相関」を観測

量子ビットのペアに対する位相回転速度のゆらぎの同時測定。シリコン量子デバイス中に隣接して電子スピンを2つ閉じ込め、金属電極(黄土色)に制御信号を与えることで、それぞれが量子ビットとして動作する仕組みだ。これらの量子ビットのペアに対し、誤りをもたらす位相回転速度のゆらぎ(時間的変動)を同時に測定することで、量子ビット間の誤り相関が評価された(出所:東工大プレスリリースPDF)