理研、3つの量子ビットの制御および量子もつれ状態の生成に成功

3つのスピン量子もつれ状態の生成と測定。(a)3つのスピンのGHZ状態生成および測定の量子ゲートシーケンス。X(Y,Z)はx(y,z)軸回りのπ回転、X/2(Y/2,Z/2)はx(y,z)軸回りのπ/2回転が表されている。CZ/2はCZゲートを半分作用させた操作を表す。この測定では、GHZ状態を生成する量子ゲートシーケンスにスピンエコー法(各量子ビットに印加されるY操作がリフォーカスパルス)を組み合わせることで、低周波雑音の影響を低減させている。(b)量子状態トモグラフィの測定結果。プロットされているのは密度行列の実部。(c)理想的な3つのスピンGHZ状態の密度行列。四隅の値(0.5)以外はすべて0となっている (出所:理研Webサイト)