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結晶1粒子の動的変化を1兆分の1mレベルで測定する技術を東大などが開発

ハロゲン化銀、およびX線光照射によって形成された銀のX線回折像の例。(c)熱処理(アニール)処理前後のハロゲン化銀表面の原子間力顕微鏡(AFM)像。アニーリング熱処理により、ハロゲン化銀の結晶粒径が大きくなっていたことが見て取れる。(d)Ag(111)からのX線回折強度の時間変化を、1ピクセル自己相関解析法により解析した結果。ACF(自己相関解析)の減衰定数の分布が、アニール熱処理前後のハロゲン化銀で大きく異なることが確認され、まったく異なった動態特性を持っていることが判明した。図中のp<0.001は有意確率を表す (出所:産総研Webサイト)

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