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結晶1粒子の動的変化を1兆分の1mレベルで測定する技術を東大などが開発

1ピクセル自己相関解析法による分子動態分析の概念図。DXB法で時分割X線回折像を2000枚程度高速撮影し、注目するX線回折像の強度変化を自己相関解析することで、単粒子や格子動態の特性を定量評価することが可能だ (出所:東大大学院新領域創成科学研究科Webサイト)

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