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V字型二重スリットによる電子波干渉の様子(画像3中央cの拡大図)。前干渉領域、後干渉領域いずれにおいても、左右それぞれのスリット像で点として検出された電子は、経路を遡ることが可能で、電子線バイプリズムのどちら側を通過し、どちらのスリットを通過したかを同定することが可能だ。一方、両スリット像が重なった干渉領域(干渉縞)では、電子を点として検出できていても、どちらの経路を通過してきたのかは決定できない (出所:理研Webサイト)

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