作製された量子ドット試料の走査型透過電子顕微鏡(STEM)像とX線構造解析の結果。(a)低濃度の量子ドット溶液を用いて作製された単層試料のSTEM像。量子ドット表面間距離は2.2nm。(b)高濃度の量子ドット溶液を用いて作製された単層試料のSTEM像。量子ドット表面間距離は0.5nm。(c)(b)の試料のX線構造解析の結果。回折角2.3°に3.9nmの周期性に対応するピークが確認された。(d)面内の量子ドット密度が低い条件(赤線)と高い条件(青線)で作製した量子ドット積層試料におけるOut-of-plane XRDの結果。どちらも回折角2.5°に3.5nmの周期性に対応するピークが現れた (出所:理研Webサイト)
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