東京エレクトロン デバイスは6月27日、AI外観検査を低コスト、短期間で実現し、企業の生産性向上を実現するAIプラットフォーム「TAiVIS(タイビス)」を、同日より受注開始したことを発表した。

  • AIプラットフォーム「TAiVIS」ソリューションの構成

    AIプラットフォーム「TAiVIS」ソリューションの構成

TAiVISは、ディープラーニングの識別技術を活用し、カメラで撮影した検査対象物の画像の特徴から良品・不良品の判定(推論)を自動で行う、製造業、食品、医療、自動車、産業機器向けのAIプラットフォーム。

個体差がある製品の検査や、汚れや色ムラを見る官能検査、過検知の判断など、これまで目視検査に頼っていた判定を自動化するともとに、AI学習により不良品の判定精度も向上するという。

また、複数の検査対象物を個別に推論処理(検査)する独自技術により、複数の製品が流れてくるラインで検査が可能となり、システム導入や運用のコストの削減や検査効率の向上が見込めるという。

さらに、不良品の流出を防ぎ、過検知の軽減を実現するAI検査システムを低コスト、短期間で導入することで、生産効率の向上とコスト削減が可能になるということだ。

「TAiVIS」の基本構成は、FA PC、外観検査アプリケーション(産業用カメラ、照明等はオプションにて対応)。