アドバンテストは11月27日、PCIeやUFSなどの高速シリアルプロトコルNAND型フラッシュメモリ向けメモリ・テストシステム「T5851 STM16G」を発表した。

同システムは、複数のプロトコルや、BGAパッケージとLGAパッケージ、設計評価から量産工程までといった、さまざまな品種や環境を1台でカバーすることが可能なもので、その試験速度は従来機比で約2倍となる最高16Gbpsとなり、最大768個のデバイスの同時試験が可能となっている。

また、同社メモリ・テストシステム共通の「FutureSuite」ソフトウエアにより、ほかの試験工程で用いられる「T5800シリーズ」のシステムとも連携することができるほか、液冷システムの「T5851 STM16G」ならびにテスト・ハンドラ「M6242」を組み合わせれば、試験温度管理に優れたターンキー・テスト・ソリューションも実現できるようになるという。

なお、同システムの出荷は2019年4～6月期となる予定だという。