NEC、良品データのみで不良品を検出するAI

NECは5月8日、ディープラーニング(深層学習)技術を搭載したソフトウェア製品「NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習」を強化し、同日より販売を開始すると発表した。

「NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習」は、画像認識やデータ関連性の分析を行うAIエンジンとして、工場ラインでの検品業務などに活用されている。今回新たに、良品データのみで学習可能なOneClass分類アルゴリズムを導入することによって、製造品質が高く不良品データを入手しにくい製造業においても、検品業務にAIが適用できるようになる。これにより、大量生産の工場ラインにおいて、長時間かつ均一な判断を求められる検品業務の効率化が可能になるという。

• OneClass分類アルゴリズムによる検品業務イメージ

そのほかの強化内容としては、「操作画面のインターフェースを刷新」と「数字情報を含むテキストデータのマッチング分析」が挙げられる。インターフェース刷新では、ナビゲーションによる画面操作によって、分析専門家以外の利用者でも容易に分析できるようになる。また、マッチング分析では、企業の人材採用や離職防止などで活用されているテキストデータのマッチング分析において、従来はテキストとして取り扱っていた数字情報を、本来の数字としての意味を保ったまま解析できるようになるという。

NEC Advanced Analytics - RAPID機械学習 V2.2画像解析版とマッチング版の価格(税別)はともに375万円～で、画像解析版の発売は2018年6月4日から、マッチング版の発売は2018年5月21日から。今後3年間で300システムの販売を目指す。