キーサイト・テクノロジーは1月30日(米国時間)、電子製品の設計、テスト、測定および解析を統合したソフトウェアプラットフォーム「PathWave」を発表した。
同プラットフォームは、これまでの同社のノウハウに基づき、一貫性、精度、測定の整合性が保証されており、ユーザーが必要なときに、必要な設計ツールとテストツールへ迅速かつ柔軟にアクセスすることを可能とするもの。設計ソフトウェア、機器制御、アプリケーション固有のテストソフトウェアをオープン開発環境で統合しているため、ユーザーは高性能なソリューションを迅速に作成することができるようになると同社では説明している。
設計およびテストの全リソースがつながれ、統合されることを実現するオープンなAPIの提供により、簡素化された、素早いカスタマイズが可能となるほか、サードパーティのソフトウェアやハードウェアも含めた、ハイクラスなテクノロジーの統合が可能。また、互換性のあるハードウェアをすぐに接続して、テストのワークフローを加速して、生産性の向上を図ることも可能だという。 さらに、ワークフリー全体で、ローカルでもクラウドでもテストデータの処理が可能なほか、併用も可能であるため、設計とテストの演算を加速することができ、かつ設計およびテストのワークフロー内で、別の開発段階への移行時間の節約も可能とするという。
なお、PathWaveは、設計、テスト、検証のワークフロー全体に対応する統合型の連結した相互運用性を備えたソフトウェア製品一式を提供しており、素早い再構成が可能なため、効率的なワークフローの提供を可能とすると同社では説明しており、具体的には、以下のようなことが可能になるとしている。
- 必要な時に必要な場所に、最適なコンピューティングのリソースを配分
- 収集したデータを評価し、ワークフローを最適化
- 新しいハードウェアとソフトウェアが既存のハードウェアと動作し、ROIを最大化
- ボトルネックを予測し、迅速に補正して効率的なワークフロープロセスを確保
- 完了のコミットメントを遂行するために、どこからでもステータスを確認