SEMICON Japan 2017-半導体パラメータアナライザなどを紹介するケースレー

12月13日から15日にかけて東京ビッグサイトにて開催されているエレクトロニクス製造サプライチェーン総合展示会「SEMICON Japan 2017」において、ケースレー社/テクトロニクス社ブースでは、半導体パラメータアナライザ「4200A-SCS型」などの紹介が行われている。

4200A-SCS型は、電流-電圧(I-V)測定、容量-電圧(C-V)測定、超高速パルスI-V測定の同期が可能な半導体デバイスの特性評価に向けたアナライザ。従来は、Windows 7ベースでの提供であったが、同会場ではWindows 10対応をうたっており、同社の担当者に確認したところ、12月中旬から、Windows 10対応品を出荷する予定であるとしていた。既存のユーザーにも有償アップデートが提供される予定で、その価格も2-3万円程度に抑える見込みだとしている。

半導体パラメータアナライザ「4200A-SCS型」。従来はWindows 7での出荷であったが、2017年12月中旬以降からはWindows 10での出荷に対応するという

このほか、同社ブースでは、パワー測定のベスト・コンビネーションとして、テクトロニクス社のMSOミクスド・シグナル・オシロスコープ「5シリーズ」と、IsoVu技術を採用した光アイソレーション型差動計測システムを組み合わせたデモなども紹介している。IsoVu技術は、電気-光センサを使用したDUT(Device Under Test)とオシロスコープの完全なガルバニック絶縁を可能にする技術で、これを搭載した同システムは、周波数帯域1GHz、コモンモード電圧2000V、差動電圧50Vを実現し、従来のプローブでは可視化できず、シミュレーションや推定に頼るしかなかった、従来見えなかった信号の可視化を可能とするものとなっている。IoT機器の普及ならびにSiCやGaNといった次世代パワー半導体の普及に伴い、ニーズが増加しているとのことで、今後のさらなるSiC/GaN市場の拡大などに併せて、活用されることが見込まれる。