テクトロ、MIPI C-PHY TXの特性評価向けテストソリューションを発表

テクトロニクス社は6月25日、MIPI C-PHY物理レイヤのトランスミッタの特性評価/デバッグに向けたオシロスコープベースのテストソリューションを発表した。

同ソリューションは2014年9月に発行されたMIPI C-PHY規格のテスト/測定課題に対応することを可能としたもの。例えば、トランスミッタの特性評価のために設計された解析ソフトウェア「C-PHY Essentials」はレシーバの校正にも使用でき、その場合、さまざまな立上り/立下り時間測定が行え、ストレスのかかったアイを、C-PHYコンプライアンス・テスト仕様で推奨されているDCDなどの異なった障害での校正に用いることができるという。

また、ソリューション・パートナーであるMoving Pixelと共に開発したこれらC-PHYソリューションには、4レーンのC-PHYトラフィック・ジェネレータ、シングルレーンのオシロスコープベースC-PHYプロトコル・デコーダ、C-PHYターミネーション・ボードが含まれており、トラフィック・ジェネレータは、レシーバの機能検証にも使用できるほか、プロトコル・デコーダは、オシロスコープ上で実行するC-PHYデコーダとなっている。なお、同社では、このソリューションを活用することで、C-PHY 1.0インタフェースを使用した次世代カメラ技術の開発、設計の詳細な解析、デバッグ、特性評価が可能になると説明している。