アドバンテストは、SoCデバイスなどをより効率的に試験するテスタ「T2000」向けデジタルモジュール「1.6GDM」を発表した。8月より出荷開始の予定。

最高データレート1.6Gbpsに対応した同モジュールは、新機能Functional Test Abstraction Plus(FTA+)により、デバイスのプロトコルレベルでのテストを実現する。そして、強力なEDA-Linkツールである「FTA-Elink」を用いることで、デバイス設計環境と「T2000」を統合することが可能となり、Verilogコードを用いた論理検証プログラムがT2000 EPP(Enhanced Performance Package)上で実行可能となる。

また、通常のパターン発生器に加えてプロトコルレベルのテストを実現するパケットシーケンサを内蔵することにより、プロトコルレベルのテストと併せて、多数個同時測定の効率向上とコンカレント試験を可能としている。これらの機能を用いることにより、デバイスの開発期間を大幅に短縮することができる。

さらに、同モジュールを用いることで、多彩な機能を持つT2000 EPPのパフォーマンスを最大限に発揮することが可能となり、さらなる多数個同測効率の向上が見込める。加えて、同時に並行して異なった種類の被試験デバイス機能のテスト、制御が実現できる。この他、「1.6GDM」のベクタモードは既存の「1GDM」モジュールとの完全互換性を保っている。