アドバンテストは5月27日、少数ピンのアナログICや、デジタル回路とアナログ回路の両方を搭載したミクスドシグナルICのテストなどに向けた計測システム「EVA100」の販売を開始したと発表した。
同システムは、アナログ電圧・電流源、パターン・ジェネレータ、オシロスコープといったデバイス評価時に必要な機能を1台に集約することで、個々の計測器間の煩雑なケーブリングや制御操作を不要としたもの。高いタイミング精度での同時制御が可能なため、高い測定再現性を実現できるという。
また、デバイスの特性・機能・量産評価に必要な機能をプログラム言語レスで直感的に、かつ低テストコストで実現できるため、計測・評価作業の効率化を図ることができ、設計評価から量産・選別工程などあらゆるシーンで活用することが可能になると同社では説明している。