National Instruments(NI)の日本法人である日本ナショナルインスツルメンツ(日本NI)は3月26日、システムソースメジャーユニット(SMU)「NI PXIe-4139」を発表した。

同製品は、独自のSourceAdapt技術が採用されており、SMU制御ループをカスタマイズすることで、さまざまな負荷にも最適なシステム応答を実現することが可能。これにより、テスト対象デバイスは保護され、システムの安定性が向上するという。さらに、従来の100倍となるサンプリングレート1.8MSpsでの計測が可能であり、テスト時間を短縮すると同時に、外部にオシロスコープなどを用意しなくても、デバイスの過渡的挙動をとらえることができる。また、100fAの電流計測感度を有し、高性能な半導体デバイスを正確に特性評価が行えるのに加え、4U 19インチラックに最大17個のSMUチャネルを収容でき、多チャネルシステムの設置面積を最小化できる。この他、500Wのパルス電力で最大10Aまでパルス範囲を拡張可能、PMIなどの評価を1台で行うことができ、テスト時間を短縮する。

これらにより、半導体や自動車、家庭用電化製品など、あらゆる業界においてテストにかかるコストを削減し、市場投入までの時間を短縮できるとしている。

日本NIのSMU「NI PXIe-4139」