アドバンテストは11月26日、インテグレイテッドパワーデバイステストソリューション(IPS)「T2000」の新モジュール「GVI64」を発表した。

同製品は、電力制御や車載向け多ピンICのパラメトリックテストにおいて、優れたテストコストを実現。パワーマネジメント回路、パワーアンプ、A/Dコンバータ(ADC)やD/Aコンバータ(DAC)などが1チップに集約された、高密度多機能アナログデバイスに対し、幅広いカバレッジと多数個同測テストを提供する。

具体的には、従来のテストシステムでは、複雑に組み上げられたパフォーマンスボードと複数枚のモジュールを必要とした。これに対し、同製品はパラメトリックテスト、タイミングテスト、リニアリティテストなど、様々なテスト機能を1枚のモジュールボードに集約している。これにより、サイクルタイムの短縮やデバッグ効率の向上を実現し、テストコストを最小限に抑えることができる。また、Digital Feedback技術により、パラメトリックテストにおける精度を向上させた他、スイッチ動作時のスパイク防止を可能にした。VIレンジは-64V～+85V/240mA、TMUレンジは-50V～+50V/100MHzとなっている。

なお、出荷開始は2014年上期(1月～6月)を予定している。