テクトロニクス社は、同社のSFF 8431、SFP+規格のコンプライアンス/デバッグ・ソリューションの強化/拡充として、高速サンプリング・レートを持ったオシロスコープ「DSA/DPO70000Dシリーズ」でのみ測定可能な「TWDPc(Transmitter Waveform Distortion Penalty for Copper)」測定のサポートなどを発表した。
今回の強化により、EthernetベースのSFF-8431、SFP+のPHYレイヤ・テストの完全自動化/デバッグ・ソリューションが提供されることとなる。
同ソリューションには、TWDPcの自動設定/実行が可能なSFP-WDPオプション、HCB(Host Compliance)およびMCB(Module Compliance Boards)が含まれており、ハイスピードEthernetやFibre Channelベースのシステムで使用されるコネクタ設計のテスト・セットアップを迅速に行うことが可能だ。
SFP+などのテクノロジーではデータ・レートが高速化するにつれてアイ開口が閉じるため、SMAケーブルなどの特定のコンポネントではテスト結果の改善のためにディエンベデッドする必要があり、SFP-TXの最新のリリースでは、ディエンベデッド機能が組み込まれている。今回のソリューションを活用することで、.FLTファイルを使用して信号をディエンベデッドすることができるようになった。
また、SFP+規格のホスト・トランスミッタ出力仕様(銅線)では、最低でも70GS/sのサンプリング・レートを持ったリアルタイム・オシロスコープでTWDPを測定する必要があるが、100GS/sのサンプリング・レートを持ったDSA/DPO70000シリーズを使用することで、信頼性の高いテスト結果を得ることが可能になると同社では説明している。
なお、価格はMSO/DSA/DPO70000シリーズオプションとして、「Opt. SFP-WDP SFP+コンプライアンス/デバッグ・ソリューション WDP測定」が40万6000円(税別)、「Opt. SFP-TX SFP+コンプライアンス/デバッグ・ソリューション」が56万4000円(税別)となっている。