米Tektronixの日本法人である日本テクトロニクスは6月10日、SuperSpeed USB(USB 3.0)デバイスの特性評価、デバッグ、自動コンプライアンス・テストを行うための統合ツールセットを発表した。同ツールセットは、同社のオシロスコープ「DPO/DSA70000Bシリーズ」のオプション「USB-TX」として提供され、1ボタン操作でUSB 3.0のトランスミッタ・デバイスを検証することが可能である。価格は税別で64万8,000円となっている。

USB-TXでは、ノーマティブ・テストのほか、SSC(スペクトラム拡散クロッキング)、スルー・レート、電圧レベルなどのインフォーマティブ・テストもサポートしている。

また、高速シリアル・データ規格の1ボタンによる自動テストのために開発されたフレームワーク「TekExpress」に組み込まれている。TekExpressのモジュールは、規格団体によって規定、発行されているテスト仕様とMOI(Method Of Implementation)に基づいており、すべてのテスト手順は自動化され、テストする項目を選択するだけで、パス/フェイルとマージンの結果を含む総合的なレポートを得ることだできる。なお、この自動化モジュールは、USB 3.0だけでなく、SATAやDisplayPortでも利用可能である。

なお、同社では同時にUSB 3.0用テスト・フィクスチャも発表しており、エンジニアはより正確なトランスミッタ、レシーバ、ケーブルのテストを行うことができるようになっている。