レポート

【7 / 15】「Intel 4」プロセスの詳細 - 7nm、EUV露光、性能2割増で2023年製品化を目指す

Photo07: 左のグラフ、横軸は抵抗値で縦軸がElectromigrationを発生するまでの時間である。中央の水平線は「10年後に0.1%の確率でElectromigrationが発生する事に相当する寿命」であり、eCuを利用する事で10年程度の製品寿命が確保できるわけだ(おまけに抵抗値はコバルト配線の半分である)。

715

記事ページに戻る

編集部が選ぶ関連記事

人気記事ランキング

ランキングをもっと見る

もっと見る

このカテゴリーについて

CPU、マザーボード、グラフィックスカードなど、各種パソコンパーツの製品情報から関連する最新テクノロジまで、パソコンの自作に関するさまざまな情報を発信。